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外乱の影響を受けにくい二波長光干渉応用変形測定法
https://doi.org/10.24517/00049978
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名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
---|---|---|
TE-PR-ADACHI-M-1085.pdf (142.3 kB)
|
Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||
---|---|---|---|---|---|---|
公開日 | 2018-02-05 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 外乱の影響を受けにくい二波長光干渉応用変形測定法 | |||||
タイトル | ||||||
言語 | en | |||||
タイトル | Deformation Measurement by Using Two Different Wavelengths of Laser to Remove Effect of Disturbance | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
資源タイプ | journal article | |||||
ID登録 | ||||||
ID登録 | 10.24517/00049978 | |||||
ID登録タイプ | JaLC | |||||
著者 |
橋本, 康弘
× 橋本, 康弘× 安達, 正明 |
|||||
著者別表示 |
Hashimoto, Yasuhiro
× Hashimoto, Yasuhiro× Adachi, Masaaki |
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提供者所属 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 金沢大学理工研究域機械工学系 | |||||
書誌情報 |
精密工学会学術講演会講演論文集 en : 2004 JSPE Autumn Meeting 巻 2004 Autumn, 号 N33, p. 1085-1086, 発行日 2004 |
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NCID | ||||||
識別子タイプ | NCID | |||||
関連識別子 | BA90159927 | |||||
DOI | ||||||
関連タイプ | isIdenticalTo | |||||
識別子タイプ | DOI | |||||
関連識別子 | 10.11522/pscjspe.2004A.0.677.0 | |||||
出版者 | ||||||
出版者 | 精密工学会 = The Japan Society for Precision Engineering | |||||
抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Abstract | |||||
内容記述 | 現在,非接触性,高感度性などの様々な利点からレーザを用いた光干渉応用計測技術が注目されているが、光干渉応用変形測定では光路差のサブミクロンオーダーの正確な制御が必要であり,振動や風等の影響を受ける通常の環境下での応用はこれまで難しかった.本研究ではDSPI法に二波長レーザと共通光路干渉計を組み合わせて,突発変形に耐えうることのでき,さらには外乱の影響を受けにくい高精度変形測定法の開発を目的とした. | |||||
内容記述 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 出版者照会後に全文公開 | |||||
権利 | ||||||
権利情報 | Copyright © The Japan Society for Precision Engineering | |||||
著者版フラグ | ||||||
出版タイプ | VoR | |||||
出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
関連URI | ||||||
識別子タイプ | URI | |||||
関連識別子 | https://www.jstage.jst.go.jp/browse/pscjspe/-char/ja/ | |||||
関連名称 | https://www.jstage.jst.go.jp/browse/pscjspe/-char/ja/ | |||||
関連URI | ||||||
識別子タイプ | URI | |||||
関連識別子 | http://www.jspe.or.jp/ | |||||
関連名称 | http://www.jspe.or.jp/ |