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ヒジコン光導電層の厚さの一測定法について
https://doi.org/10.24517/00011851
https://doi.org/10.24517/00011851f8c109dc-14ce-4d90-b6e9-5fec289ee100
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
AN00044309-3-1-91.pdf (157.8 kB)
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.png)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2017-10-03 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | ヒジコン光導電層の厚さの一測定法について | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | A method of measuring the thickness of the phto-conductive layer of a vidicon | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| ID登録 | ||||||
| ID登録 | 10.24517/00011851 | |||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||
| 著者 |
西沢, 隆一
× 西沢, 隆一 |
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| 著者別表示 |
Nishizawa, Riuichi
× Nishizawa, Riuichi |
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| 書誌情報 |
金沢大学工学部紀要 = Memoirs of the Faculty of Technology Kanazawa University 巻 3, 号 1, p. 91-99, 発行日 1962-06-01 |
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| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 0022-832X | |||||
| NCID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN00044309 | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 金沢大学工学部 = Faculty of Technology Kanazawa University | |||||
| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | This paper describes a method of measuring the thickness of the photo-conductive layer of a vidicon by a microwave technique. The thickness of the layer is obtained by measuring the reflection of electromagnetic waves in a waveguide. The vacuum-coated layer is assumed to consist of two or three homogeneous isotropic layers. |
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| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
