@article{oai:kanazawa-u.repo.nii.ac.jp:00029953,
 author = {中村, 和倫 and 山田, 外史 and 岩原, 正吉},
 journal = {金沢大学自然計測応用研究センター年報},
 month = {Mar},
 note = {AA11873584, 金沢大学大学院自然科学研究科電子情報システム専攻, 金沢大学自然計測応用研究センター, 金沢大学工学部電気電子システム工学科},
 pages = {92--93},
 title = {うず電流探傷法による高密度プリント基板検査法に関する研究},
 volume = {1},
 year = {2003},
 yomi = {ナカムラ, カヅノリ and ヤマダ, ソトシ and イワハラ, マサヨシ}
}