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Development of a low-profile atomic force microscope and its application to force measurements,and of a twisting force detection method and beam-tracking method
http://hdl.handle.net/2297/16388
http://hdl.handle.net/2297/16388aa5ea5d5-366c-4517-b210-ea579c40f5c1
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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NA-TH-215-407-409.pdf (201.4 kB)
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| Item type | その他 / Others(1) | |||||
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| 公開日 | 2017-10-05 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Development of a low-profile atomic force microscope and its application to force measurements,and of a twisting force detection method and beam-tracking method | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_1843 | |||||
| 資源タイプ | other | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | 原子間力顕微鏡の薄型化と力学測定への応用及び,ねじれ振動による距離検出法とビームトラッキング法の開発 | |||||
| 著者 |
中野, 勝志
× 中野, 勝志 |
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| 著者別名 | ||||||
| 値 | Nakano, Katsushi | |||||
| 書誌情報 |
博士学位論文要旨 論文内容の要旨および論文審査結果の要旨／金沢大学大学院自然科学研究科 巻 平成13年6月, p. 407-409, 発行日 2001-06-01 |
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| その他の識別子 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 000000405625 | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 金沢大学 | |||||
| 内容記述 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 取得学位：博士(理学)，学位授与番号：博乙第215号，学位授与年月日：平成12年9月29日,学位授与年：2000 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
