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アイテム / Development of a low-profile atomic force microscope and its application to force measurements,and of a twisting force detection method and beam-tracking method / NA-TH-215-407-409
NA-TH-215-407-409
| ファイル | ライセンス |
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NA-TH-215-407-409.pdf (201.4 kB)
sha256
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| 公開日 | 2017-10-05 | |||||
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| ファイル名 | NA-TH-215-407-409.pdf | |||||
| 本文URL | https://kanazawa-u.repo.nii.ac.jp/record/37269/files/NA-TH-215-407-409.pdf | |||||
| ラベル | NA-TH-215-407-409.pdf | |||||
| フォーマット | application/pdf | |||||
| サイズ | 201.4 kB | |||||
| Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/非表示 |
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