@article{oai:kanazawa-u.repo.nii.ac.jp:00043647,
 author = {Ueda, Kakuji and Adachi, Masaaki and Inabe, Katsuyuki and Isojima, Kazuoki and 上田, 覚児 and 安達, 正明 and 稲部, 勝幸 and 五十島, 一興},
 issue = {K51},
 journal = {精密工学会学術講演会講演論文集, 2003 JSPE Autumn Meeting},
 month = {},
 note = {白色干渉を応用した形状測定法では，物体と参照鏡が作る干渉縞の位相とコントラストから形状を高精度に算出する．一般に，取り込む画像毎の位相シフト量をπ/2とすることが多いが，本研究では位相シフト量を2nπ±π/2（n:自然数）とし，シフトスピードを速める．また，光源として波長の異なる2つのLEDを使用し，交互に点灯させそれぞれの波長λ1，λ2の干渉像を取り込み，取り込んだ画像から形状を測定する研究をしている., 出版者照会後に全文公開, 金沢大学理工研究域機械工学系},
 pages = {496--496},
 title = {二波長光干渉式高速高精度三次元形状測定法},
 volume = {2003 Autumn},
 year = {2003}
}