@techreport{oai:kanazawa-u.repo.nii.ac.jp:00046224,
 month = {Jun},
 note = {力センサとして用いるカンチレバーの垂直方向とねじり曲げ方向の同時励振を行い、その周波数や振幅などの信号を同時取得することにより、探針の水平方向に存在するナノ構造体を非接触で検出できる原子間力顕微鏡(AFM）手法を開発した。今後、カンチレバー形状の最適化や同時計測した信号を用いたフィードバック制御方法の確立によって、新規AFM手法の実用性を高めていくことができる。, In this project, I developed an atomic force microscopy (AFM) method that was capable to detect nanostructures existing in the horizontal direction of an AFM probe in non-contact manner. The detection of nanostructures became possible by a simultaneous excitation and monitoring of two vibration modes of cantilevers used as a force sensor. The two vibration modes are the vertical normal bending and the torsional bending vibrations. The practicality of the developed AFM method can be improved by optimizing the cantilever shape and establishing the feedback control conditions., 研究課題/領域番号:26600097, 研究期間(年度):2014-04-01 - 2017-03-31, 出典：「探針側方のナノ構造体を検知する非破壊AFMの開発と生体分子集合体計測への応用」研究成果報告書　課題番号26600097
（KAKEN：科学研究費助成事業データベース（国立情報学研究所）） 
（https://kaken.nii.ac.jp/report/KAKENHI-PROJECT-26600097/26600097seika/）を加工して作成, 金沢大学ナノマテリアル研究所},
 title = {探針側方のナノ構造体を検知する非破壊AFMの開発と生体分子集合体計測への応用},
 year = {2017}
}