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先端プロセスにおける内蔵マルチポートSRAMの高信頼性・高性能化に関する研究
http://hdl.handle.net/2297/00053016
http://hdl.handle.net/2297/000530164ed10a56-ca94-470a-b352-f6df434b6c48
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
Full-N-1223112002-Ishii-Yuichiro (1.9 MB)
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.png)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2019-01-15 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 先端プロセスにおける内蔵マルチポートSRAMの高信頼性・高性能化に関する研究 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | A Study on Reliability and Performance Enhancement for Deep-Submicron Embedded Multi-Port SRAM | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_db06 | |||||
| 資源タイプ | doctoral thesis | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | open access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||
| 著者 |
石井, 雄一郎
× 石井, 雄一郎 |
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| 著者別表示 |
Ishii, Yuichiro
× Ishii, Yuichiro |
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| 書誌情報 |
博士論文本文Full |
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| 学位授与番号 | ||||||
| 学位授与番号 | 甲第4809号 | |||||
| 学位名 | ||||||
| 学位名 | 博士（工学） | |||||
| 学位授与機関 | ||||||
| 学位授与機関識別子Scheme | kakenhi | |||||
| 学位授与機関識別子 | 13301 | |||||
| 学位授与機関名 | 金沢大学 | |||||
| 学位授与年月日 | ||||||
| 学位授与年月日 | 2018-09-26 | |||||
| 内容記述 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 博士論文本文Full | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
| 関連URI | ||||||
| 識別子タイプ | HDL | |||||
| 関連識別子 | http://hdl.handle.net/2297/53015 | |||||
