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  1. N. 科研費研究成果報告書, JSTプロジェクト報告書, COE報告書
  2. n-1. 科学研究費成果報告書
  3. 昭和61(1986)年度

半導体レーザにおけるモード競合作用と発振線幅の関係

https://doi.org/10.24517/00068017
https://doi.org/10.24517/00068017
05e7d834-d18f-4fa7-87d2-09795d7e6c0d
名前 / ファイル ライセンス アクション
TE-PR-YAMADA-M-kaken TE-PR-YAMADA-M-kaken 2016-2p.pdf (125.5 kB)
license.icon
Item type 報告書 / Research Paper(1)
公開日 2022-12-26
タイトル
タイトル 半導体レーザにおけるモード競合作用と発振線幅の関係
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_18ws
資源タイプ research report
ID登録
ID登録 10.24517/00068017
ID登録タイプ JaLC
著者 山田, 實

× 山田, 實

WEKO 108547
e-Rad 80110609

山田, 實

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提供者所属
内容記述タイプ Other
内容記述 金沢大工学部
書誌情報 昭和61(1986)年度 科学研究費補助金 特定研究 研究課題概要
en : 1986 Research Project Summary

巻 1986, p. 2p., 発行日 2016-04-21
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 半導体レーザにおける発振線幅と強度雑音およびモード競合作用の関係を示す方程式を導出した。自然放出光のゆらぎが上記種々の現象での原因になており、モード競合作用がこれらの現象を増大させていると仮定して定式化した。この理論でAlGaAsレーサについて数値的な結果を算出した。主発振モードに対する近接微弱モードの影響は、出力強度比が0.1〜10の範囲になるとモード競合により線幅が急増し、数10【GH_2】になることが示された。また、モード競合の影響は、強度雑音への方が線幅増大現象よりも大きく影響する。なお、強度雑音を電気的負帰還法で低減化した場合には、レーザ内部の電子数ゆらぎが抑制されるので、線幅を狭くする効果があるかどうかも理論的に吟味したが、強度雑音低減化用の電気的負帰還法では線幅は狭くならないことが示された。
実験的な研究としては、AlGaAsレーザを用い、戻り光により雑音を誘起してその時の線幅の変化を測定した。モード競合が生ずると線幅が急増することが、定性的ではあるが確認できた。また、単一モード動作時での線幅増大現象と強度雑音の関係を定量的に測定した。I/Im=1.7の動作で相対雑音強度(RIN)が【10^(-14)】【H2^(-1)】程度の時の線幅はΔf【〜!〜】4【MH_2】であり、【10^(-11)】【H2^(-1)】の時にはΔf【〜!〜】18【MH_2】に増加した。なお、電気的負帰還法の実験では、強度雑音低減時にΔfは2部以上広がってしまった。
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 研究課題/領域番号:61221006, 研究期間(年度):1986
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 出典:研究課題「半導体レーザにおけるモード競合作用と発振線幅の関係」課題番号61221006
(KAKEN:科学研究費助成事業データベース(国立情報学研究所))
(https://kaken.nii.ac.jp/ja/grant/KAKENHI-PROJECT-61221006/)を加工して作成
著者版フラグ
出版タイプ AM
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa
関連URI
識別子タイプ URI
関連識別子 https://kaken.nii.ac.jp/search/?qm=80110609
関連名称 https://kaken.nii.ac.jp/search/?qm=80110609
関連URI
識別子タイプ URI
関連識別子 https://kaken.nii.ac.jp/ja/grant/KAKENHI-PROJECT-61221006/
関連名称 https://kaken.nii.ac.jp/ja/grant/KAKENHI-PROJECT-61221006/
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Ver.1 2023-07-27 11:01:35.192198
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