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  1. B. 理工学域; 数物科学類・物質化学類・機械工学類・フロンティア工学類・電子情報通信学類・地球社会基盤学類・生命理工学類
  2. b 10. 学術雑誌掲載論文
  3. 1.査読済論文(工)

上下振動の影響を受けない高精度粗さ測定法 (第2報): 完全な平面を必要としない断面形状の測定法

http://hdl.handle.net/2297/42427
http://hdl.handle.net/2297/42427
bd7cc797-36ca-49a4-9f26-7b4e44573284
名前 / ファイル ライセンス アクション
TE-PR-ADACHI-M-1088.pdf TE-PR-ADACHI-M-1088.pdf (1.2 MB)
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2017-10-03
タイトル
タイトル 上下振動の影響を受けない高精度粗さ測定法 (第2報): 完全な平面を必要としない断面形状の測定法
タイトル
タイトル Precision Profiling Method Insensitive to Vertical Vibrations (2nd Report): A Method Need not a Perfect-flat Plane
言語 en
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
著者 安達, 正明

× 安達, 正明

WEKO 399
e-Rad 50212519
研究者番号 50212519

安達, 正明

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三木, 秀司

× 三木, 秀司

WEKO 13643

三木, 秀司

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鈴木, 紀生

× 鈴木, 紀生

WEKO 13644

鈴木, 紀生

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中井, 康秀

× 中井, 康秀

WEKO 13645

中井, 康秀

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川口, 格

× 川口, 格

WEKO 13646

川口, 格

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書誌情報 精密工学会誌 = Journal of the Japan Society for Precision Engineering

巻 56, 号 6, p. 1088-1093, 発行日 1990-01-01
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 0912-0289
NCID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN1003250X
DOI
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 10.2493/jjspe.56.1088
出版者
出版者 精密工学会 = The Japan Society for Precision Engineering
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 When one will measure the precision profiles of super smooth surfaces using an optical interferometer, a perfect-flat reference mirror should be used. However, it is impossible to obtain such a mirror. For the case using a stylus method, a perfectly-straight-moving slide table should be used. It is impossible to obtain that table too. In this paper, We propose the optical precision profiling method which does not need a perfect-flat plane. This method is developed on the optical skid method previously reported (the 1st report). For the surface data obtained using the optical skid method, the amplitude of low spatial-frequency components were attenuated noticeably and the data were used as the roughness profiles. This paper will make it clear that : (1) One can theoretically calculate the exact attenuation rate of frequency component from the positions and the sizes of the photo-detectors used in the sensor head of the optical skid method. (2) One can completely retrieve the surface profile by the digital filtering using the calculated attenuation rate. In an experiment, a profile of a step height standard is retrieved using the method mentioned above. And a waviness profile of a mirror obtained using this method is compared with the profile measured using Talystep.
権利
権利情報 Copyright © The Japan Society for Precision Engineering 精密工学会
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
関連URI
識別子タイプ URI
関連識別子 https://www.jstage.jst.go.jp/browse/jjspe/-char/ja/
関連URI
識別子タイプ URI
関連識別子 http://www.jspe.or.jp/
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Ver.1 2023-07-28 01:54:05.179093
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