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アイテム / Ab initio calculations for defects in silicon-based amorphous semiconductors / TE-PR-ISHII-N-1992-305
TE-PR-ISHII-N-1992-305
ファイル | ライセンス |
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TE-PR-ISHII-N-1992-305.pdf (304.8 kB) sha256 03f2f6b4e1eb2c4ba19844494124e18877edc342b3e705f3501a58bc5bcfad0a |
公開日 | 2017-10-03 | |||||
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ファイル名 | TE-PR-ISHII-N-1992-305.pdf | |||||
本文URL | https://kanazawa-u.repo.nii.ac.jp/record/7876/files/TE-PR-ISHII-N-1992-305.pdf | |||||
ラベル | TE-PR-ISHII-N-1992-305.pdf | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 304.8 kB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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