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  1. H-2. ナノ生命科学研究所
  2. h-2 10.学術雑誌掲載論文
  3. 1. 査読済論文

Separate-type scanner and wideband high-voltage amplifier for atomic-resolution and high-speed atomic force microscopy

https://doi.org/10.24517/00008809
https://doi.org/10.24517/00008809
01e009ab-56ae-4c2a-a76d-4d5dc6c8dc51
名前 / ファイル ライセンス アクション
TE-PR-FUKUMA-T-43705.pdf TE-PR-FUKUMA-T-43705.pdf (1.3 MB)
license.icon
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2017-10-03
タイトル
タイトル Separate-type scanner and wideband high-voltage amplifier for atomic-resolution and high-speed atomic force microscopy
言語
言語 eng
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
ID登録
ID登録 10.24517/00008809
ID登録タイプ JaLC
著者 Miyata, Kazuki

× Miyata, Kazuki

WEKO 11945
e-Rad 10788243

Miyata, Kazuki

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Usho, Satoshi

× Usho, Satoshi

WEKO 12492

Usho, Satoshi

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Yamada, Satoshi

× Yamada, Satoshi

WEKO 12493

Yamada, Satoshi

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Furuya, Shoji

× Furuya, Shoji

WEKO 12494

Furuya, Shoji

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Yoshida, Kiyonori

× Yoshida, Kiyonori

WEKO 12495

Yoshida, Kiyonori

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Asakawa, Hitoshi

× Asakawa, Hitoshi

WEKO 11946
金沢大学研究者情報 90509605
研究者番号 90509605

Asakawa, Hitoshi

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Fukuma, Takeshi

× Fukuma, Takeshi

WEKO 366
e-Rad 90452094
金沢大学研究者情報 90452094
研究者番号 90452094

Fukuma, Takeshi

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著者別表示 宮田, 一輝

× 宮田, 一輝

宮田, 一輝

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淺川, 雅

× 淺川, 雅

淺川, 雅

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福間, 剛士

× 福間, 剛士

福間, 剛士

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提供者所属
内容記述タイプ Other
内容記述 金沢大学ナノ生命科学研究所
書誌情報 Review of Scientific Instruments

巻 84, 号 4, p. 43705, 発行日 2013-04-01
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 0034-6748
NCID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA00817730
DOI
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 10.1063/1.4802262
出版者
出版者 American Institute of Physics (AIP)
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 We have developed a liquid-environment atomic force microscope with a wideband and low-noise scanning system for atomic-scale imaging of dynamic processes at solid/liquid interfaces. The developed scanning system consists of a separate-type scanner and a wideband high-voltage amplifier (HVA). By separating an XY-sample scanner from a Z-tip scanner, we have enabled to use a relatively large sample without compromising the high resonance frequency. We compared various cantilever- and sample-holding mechanisms by experiments and finite element analyses for optimizing the balance between the usability and frequency response characteristics. We specifically designed the HVA to drive the developed scanners, which enabled to achieve the positioning accuracy of 5.7 and 0.53 pm in the XY and Z axes, respectively. Such an excellent noise performance allowed us to perform atomic-resolution imaging of mica and calcite in liquid. Furthermore, we demonstrate in situ and atomic-resolution imaging of the calcite crystal growth process in water. © 2013 AIP Publishing LLC.
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
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Ver.1 2023-07-27 10:35:28.960590
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