ログイン
言語:

WEKO3

  • トップ
  • ランキング
To
lat lon distance
To

Field does not validate



インデックスリンク

インデックスツリー

メールアドレスを入力してください。

WEKO

One fine body…

WEKO

One fine body…

アイテム

  1. B. 理工学域; 数物科学類・物質化学類・機械工学類・フロンティア工学類・電子情報通信学類・地球社会基盤学類・生命理工学類
  2. b 10. 学術雑誌掲載論文
  3. 1.査読済論文(工)

Conductive Microbead Detection by Helmholtz Coil Technique With SV-GMR Sensor

https://doi.org/10.24517/00048889
https://doi.org/10.24517/00048889
107ad87e-4b2a-42e2-8917-4e42c974f05e
名前 / ファイル ライセンス アクション
TE-PR-YAMADA-S-258.pdf TE-PR-YAMADA-S-258.pdf (612.6 kB)
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article_default(1)
公開日 2017-11-16
タイトル
タイトル Conductive Microbead Detection by Helmholtz Coil Technique With SV-GMR Sensor
言語
言語 eng
キーワード
主題Scheme Other
主題 Conductive microbead
キーワード
主題Scheme Other
主題 Eddy-current testing
キーワード
主題Scheme Other
主題 Helmholtz coil
キーワード
主題Scheme Other
主題 Spin-valve giant magnetoresistance\n
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
ID登録
ID登録 10.24517/00048889
ID登録タイプ JaLC
著者 山田, 外史

× 山田, 外史

山田, 外史

Search repository
岩原, 正吉

× 岩原, 正吉

岩原, 正吉

Search repository
T., Somsak

× T., Somsak

en T., Somsak

Search repository
K., Chomsuwan

× K., Chomsuwan

en K., Chomsuwan

Search repository
Sotoshi, Yamada

× Sotoshi, Yamada

en Sotoshi, Yamada

Search repository
Masayoshi, Iwahara

× Masayoshi, Iwahara

en Masayoshi, Iwahara

Search repository
S.C., Mukhopadhyay

× S.C., Mukhopadhyay

en S.C., Mukhopadhyay

Search repository
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 We present an eddy-current test (ECT) method for detecting conductive microbeads on a non-conductive substrate. A Helmholtz coil is used to generate an exciting magnetic field. The magnetic fields, generated by eddy-currents in a Pb-Sn microbead, are detected by a spin-valve giant magnetoresistive (SV-GMR) sensor. The experimental results are compared to an analytical solution for the magnetic field over the microbead. Early results for the detection of a grid of microbeads are also presented. © 2005 IEEE.
書誌情報 Proceedings - Third IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications, DELTA 2006 \n2006,1581205

巻 2006, 号 1581205, p. 157-162, 発行日 2006
出版者
出版者 IEEE
DOI
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 10.1109/DELTA.2006.25
権利
権利情報 Copyright © IEEE
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
戻る
0
views
See details
Views

Versions

Ver.1 2023-07-27 17:50:34.712810
Show All versions

Share

Mendeley Twitter Facebook Print Addthis

Cite as

エクスポート

OAI-PMH
  • OAI-PMH JPCOAR 2.0
  • OAI-PMH JPCOAR 1.0
  • OAI-PMH DublinCore
  • OAI-PMH DDI
Other Formats
  • JSON
  • BIBTEX

Confirm


Powered by WEKO3


Powered by WEKO3