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  1. B. 理工学域; 数物科学類・物質化学類・機械工学類・フロンティア工学類・電子情報通信学類・地球社会基盤学類・生命理工学類
  2. b 10. 学術雑誌掲載論文
  3. 1.査読済論文(工)

Nd:YAGレーザによるSiウエハの割断加工に関する研究: 冷凍チャックシステムによる効果

http://hdl.handle.net/2297/38627
http://hdl.handle.net/2297/38627
b75bb05f-277c-4306-9e1c-98e8d6a06edc
名前 / ファイル ライセンス アクション
TE-PR-UEDA-T-393.pdf TE-PR-UEDA-T-393.pdf (6.7 MB)
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2017-10-03
タイトル
タイトル Nd:YAGレーザによるSiウエハの割断加工に関する研究: 冷凍チャックシステムによる効果
タイトル
タイトル Study on Cleaving Process of Silicon Wafer with Nd:YAG Laser: Effect of Refrigerating Chuck System
言語 en
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
著者 山田, 啓司

× 山田, 啓司

WEKO 11553
e-Rad 50242532
研究者番号 50242532

山田, 啓司

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森田, 精一

× 森田, 精一

WEKO 12890

森田, 精一

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上田, 隆司

× 上田, 隆司

WEKO 10422
e-Rad 60115996
研究者番号 60115996

上田, 隆司

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細川, 晃

× 細川, 晃

WEKO 280
e-Rad 60432134
金沢大学研究者情報 40199493
研究者番号 40199493

細川, 晃

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田中, 隆太郎

× 田中, 隆太郎

WEKO 408
e-Rad 60361979
研究者番号 60361979

田中, 隆太郎

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書誌情報 Journal of the Japan Society for Precision Engineering, Contributed Papers = 精密工学会誌論文集

巻 72, 号 3, p. 393-397, 発行日 2006-03-05
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 1348-8724
NCID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA11966630
DOI
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 10.2493/jspe.72.393
出版者
出版者 精密工学会 = The Japan Society for Precision Engineering
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 In this paper, a refrigerating chuck system is developed to reduce the thermal damages of workpiece in laser cleaving process. The system reduces the surface temperature of table below the freezing point of water, and the work material is fixed on the table by the frozen water between the material and the table. The cooling capability of the system is investigated. The system is applied to the laser cleaving process of silicon wafer with cw-Nd:YAG laser. The laser cleaving experiment of silicon wafer is conducted with Nd:YAG laser, then the width of thermal affected zone on the irradiated surface, the roughness of fractured surface and the deviation of cleaving trajectory are measured. The silicon oxide is caused on the surface of wafer in the room temperature, but the refrigerating chuck can prevent the thermal damage and improve the reliability of the cleaving process. By use of the chuck, the smooth fractured surface is achieved and the linearity of the cleaving trajectory is also improved.
権利
権利情報 Copyright © 2007 The Japan Society for Precision Engineering 精密工学会
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
関連URI
識別子タイプ URI
関連識別子 http://www.jspe.or.jp/
関連URI
識別子タイプ URI
関連識別子 https://www.jstage.jst.go.jp/browse/jspe
関連URI
識別子タイプ URI
関連識別子 http://ci.nii.ac.jp/naid/110004656746/
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Ver.1 2023-07-28 01:59:39.303467
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