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  1. B. 理工学域; 数物科学類・物質化学類・機械工学類・フロンティア工学類・電子情報通信学類・地球社会基盤学類・生命理工学類
  2. b 10. 学術雑誌掲載論文
  3. 1.査読済論文(工)

Application of Eddy-Current Testing Technique for High-Density Double-Layer Printed circuit Board Inspection

http://hdl.handle.net/2297/48328
http://hdl.handle.net/2297/48328
c849f4df-b604-4afa-aada-8be51620ad45
名前 / ファイル ライセンス アクション
TE-PR-YAMADA-S-249.pdf TE-PR-YAMADA-S-249.pdf (859.7 kB)
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2017-10-03
タイトル
タイトル Application of Eddy-Current Testing Technique for High-Density Double-Layer Printed circuit Board Inspection
言語
言語 eng
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
著者 Chomsuwan, K.

× Chomsuwan, K.

WEKO 13759

Chomsuwan, K.

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Yamada, Sotoshi

× Yamada, Sotoshi

WEKO 11069
e-Rad 80019786
研究者番号 80019786

Yamada, Sotoshi

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Iwahara, Masayoshi

× Iwahara, Masayoshi

WEKO 11068
研究者番号 80020212

Iwahara, Masayoshi

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Wakiwaka, H.

× Wakiwaka, H.

WEKO 13760

Wakiwaka, H.

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Shoji, S.

× Shoji, S.

WEKO 13761

Shoji, S.

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書誌情報 IEEE Transactions on Maggetics

巻 41, 号 10, p. 3619-3621, 発行日 2005-10-01
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 0018-9464
NCID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA00667933
DOI
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 10.1109/TMAG.2005.855173
出版者
出版者 Institute of Electrical and Electronics Engineers IEEE
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 High-density double-layer printed circuit board (PCB) inspection based on the eddy-current testing (ECT) technique is proposed in this paper. The ECT probe, which consisted of a planar meander exciting coil and spin-valve giant magnetoresistance (SV-GMR) sensor array, is used for this propose. Defects on both the top- and bottom-layer of the high-density double-layer PCB are examined by the ECT technique with scanning over either the top or bottom layer. The characteristics of the proposed ECT probe for high-density double-layer PCB inspection are studied. The inspection results of the high-density double-layer PCB model verify that applying the ECT technique enables identification of the defects of both the top and bottom layer with one-side scanning.
権利
権利情報 © 2005 IEEE.
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
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Ver.1 2023-07-28 01:53:00.443027
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